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ホーム表面分析受託サービス > 形態観察 / 構造解析:AFM/SCM(原子間力顕微鏡/走査型プローブ顕微鏡/走査型容量顕微鏡)

AFM/SPM (原子間力顕微鏡/走査型プローブ顕微鏡)

Analytical Resolution versus Detection Limit

AFM/SPM

特徴:原子レベルの表面形状測定。PN接合分布測定(SCM)等

定量分析 検出感度 化学結合状態 破壊測定 空間分解能/ビーム径 深さ分解能
No No No 1.5-5nm 0.01nm

AFM/SCM アプリケーションIII-V系材料

■ 異常成長したGaAs表面の形状観察
異常成長したGaAs表面の形状観察画像
■ ヒドロゲルをコーティングしたカテーテル
ヒドロゲルをコーティングしたカテーテル
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