表面分析受託サービス及び環境影響評価試験のナノサイエンス

材料の性質や純度の調査は、最新の製造サプライチェーンを理解するために重要であり、また、研究と開発にとっても必須要素であり、問題解決や不良解析にもつながっていく重要な要素です。特に、化学薬品や高分子材料は、EAG Inc.が、サービスをご提供している電子・半導体デバイスから医薬品や医療デバイスに渡る、ほぼすべての製造業に不可欠となっています。お客様の問題に焦点を絞った適切な分析手法を応用し、材料中の混合物や添加剤が存在している複雑な混合材料を解析し、シンプルにしていくことが出来ます。FT-IR分析やラマン分光分析のようなツールは、有機物の定性には優れており、また、TOF-SIMS分析やXPS分析のようなツールは、より表面の成分に対して利用でき、材料表面の偏析や官能基などの特定に適しています。

また、TGA、DTA及びDSCなどの技術を用いての高分子の熱変化の評価や、TD-GCMSの応用で脱ガス過程の確認も行えます。化学・高分子材料中の無機成分に対しては、SEM-EDS、XPS、XRF、ICP-OES, ICP-MSなど幅広い手法を駆使して%レベルからppm~サブppmレベルに至る成分の同定と検出を行います。