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ステンレススチールの変質層の評価

FIBのSIM像(Scanning Ion Microscope) 及びTEM像で、レーザーカット時に生成される、熱ダメージによる加工変質層の確認が可能です。

■ レーザーカット後のHAZ層(Heat-Affected –Zone)の確認
レーザーカット後のHAZ層(Heat-Affected –Zone)の確認説明画像
■ 電解研磨前後のHAZ層の変化
電解研磨前後のHAZ層の変化の説明画像

電界研磨前後の試料の断面観察により、電界研磨をすることによりHAZ層が除去できていることが確認できています。

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