分析事例紹介:医療デバイス

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ステント表面の汚染評価

XPS(光電子X線分光法)は、表面近傍の浅い領域からの情報を検出します。
そのため、表面汚染の有無等に関しての情報を取得することが可能です。

図これらの事例はステント表面において観察された汚染が何に起因するものかをXPSで調べたものです。また、TOF-SIMS(飛行時間型二次イオン質量分析法)にてさらに詳細に汚染物質の由来を調べることも可能です。

図

炭化水素系の汚染が確認されました。

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